超聲檢測的A、B、C掃描
超聲波探傷儀及缺陷位置和大小的表示方式有三種方式：A掃描、B掃描、C掃描，其中市面上大多數(shù)缺陷判定方式的是A掃描，也是目前工業(yè)超聲探傷中的主流探測手段。
A掃描來源于英文單詞Amplitude，即幅值的意思，也即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。
基于A掃的缺陷判定方式，當(dāng)在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷，由于這個(gè)缺陷的存在，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后，就會發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會顯示出來一個(gè)反射波的波形，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。
這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性質(zhì)。
如圖1所示為缺陷的A掃描判定方式。
B掃描來源于英文單詞birightness，亮度的意思，掃描圖像以二維圖像顯示，屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。
其亮度信息，則是通過計(jì)算反射回來的超聲波的強(qiáng)弱來確定。
如圖2所示為B掃描顯示方式。
C掃描來源于英文Constant depth，意思是恒定的深度，是對某一深度的截面進(jìn)行掃描，是二維平面內(nèi)移動(dòng)并選取A掃描特定深度的點(diǎn)的信號成像，顯示的是水平截面的缺陷信息。
如圖3所示為C掃描顯示方式。
上面所有的掃描方式放在一個(gè)示意圖中可以表示為圖3的更加形象的方式：
A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標(biāo)是超聲波在被檢測材料中的傳播時(shí)間或者傳播距離，縱坐標(biāo)是超聲波反射波的幅值。
在一個(gè)鋼工件中存在一個(gè)缺陷，由于這個(gè)缺陷的存在，造成了缺陷和鋼材料之間形成了一個(gè)不同介質(zhì)之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同，當(dāng)發(fā)射的超聲波遇到這個(gè)界面之后，就會發(fā)生反射,反射回來的能量又被探頭接受到，在顯示屏幕中橫坐標(biāo)的一定的位置就會顯示出來一個(gè)反射波的波形，橫坐標(biāo)的這個(gè)位置就是缺陷在被檢測材料中的深度。
這個(gè)反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性質(zhì)。
B掃描方式在掃描圖像以二維圖像顯示，屏幕顯示的是與聲速傳播方向平行且與工件的測量表面垂直的剖面。
C掃描就是三維成像掃描，掃描結(jié)果為工件的橫斷面。
